三豐 白光干涉光學單元 WLI-Unit
2025/7/15 16:50:34
產品簡介：
精準定位和多軸控制，耐環境，用戶NC機床定位、半導體制造設備定位等。
產品分類：機器視覺 其它
品牌：產品介紹
白光干涉光學單元 WLI-Unit
可使用白光干涉進行非接觸式高精度細微表面性狀測量，例如，3D形狀測量、3D粗糙度測量
產品特點與優勢
● 實現非接觸式3D表面形狀測量和輪廓測量
可利用白光干涉原理實現非接觸式高精度細微表面性狀測量
（例如：3D形狀測量、3D粗糙度測量）
● 不依賴于光學倍率的高度測量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進行測量
● 高縱橫比測量
不依賴于光學系統的NA進行檢測，支持高縱橫比形狀測量
● 抗干擾震動的高穩定性
● 小型輕便
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